Создан заказ №252102
20 июня 2014
Основы зондовой микроскопии
Как заказчик описал требования к работе:
Необходимо написать и оформить курсовую работу по материаловедению. Пишите, пожалуйста, сразу сколько будет стоить курсовая работа.
Фрагмент выполненной работы:
ВВЕДЕНИЕ
Современная наука предъявляет исключительно высокие требования к исследовательскому оборудованию, причем ключевым фактором, определяющим конкурентоспособность научной группы или центра, является время. Появляются новые многочисленные экспериментальные подходы и, если они эффективны, быстро получают массовое распространение. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) – один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением [1]. (работа была выполнена специалистами Автор 24) В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ. Прогресс в нанотехнологии стимулировался развитием экспериментальных методов исследований, наиболее информативными из которых являются методы СЗМ, изобретением и в особенности распространением которых мир обязан нобелевским лауреатам 1986 года – профессору Генриху Рореру и доктору Герду Биннигу [2]. Развитие СЗМ послужило также основой для развития новых методов исследования и новых направлений в нанотехнологии производства – создания структур с нанометровыми масштабами [3].
В качестве инструмента исследования, используемого в СЗМ, является сканирующий зондовый микроскоп. Сканирующие зондовые микроскопы (от англ. SPM – Scanning Probe Microscope) – класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Работа сканирующего зондового микроскопа основана на взаимодействии поверхности образца с зондом (кантилевер, игла или оптический зонд). При малом расстоянии между поверхностью и зондом действие сил взаимодействия (отталкивания, притяжения, и др. сил) и проявление различных эффектов (например, туннелирование электронов) можно зафиксировать с помощью современных средств регистрации. Для регистрации используют различные типы сенсоров, чувствительность которых позволяет зафиксировать малые по величине возмущения. Для получения полноценного растрового изображения используют различные устройства развертки по осям X и Y (например, пьезотрубки, плоскопараллельные сканеры) [1].
Первым из семейства сканирующих зондовых микроскопов был сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), изобретенный в 1981 году швейцарскими учеными Гердом Биннигом и Генрихом Рорером [4,5]. В своих работах они показали, что это достаточно простой и весьма эффективный способ исследования поверхности с пространственным разрешением вплоть до атомарного. Настоящее признание данная методика получила после визуализации атомарной структуры поверхности ряда материалов и, в частности, реконструированной поверхности кремния. Вслед за туннельным микроскопом в течение короткого времени были созданы атомно-силовой микроскоп (АСМ), магнитно-силовой микроскоп (МСМ), электросиловой микроскоп (ЭСМ), ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) и многие другие приборы, имеющие сходные принципы работы и называемые сканирующими зондовыми микроскопами [6].
В настоящее время зондовая микроскопия – это бурно развивающаяся область техники и прикладных научных исследований. СЗМ-методы позволяют не только визуализировать и диагностировать микро- и нанообъекты различной природы, но и манипулировать одиночными нанообъектами и модифицировать их структуру с высоким пространственным разрешением. Для этих целей используются электронные токи большой плотности, сильные электрические поля и механические давления, которые можно легко реализовать в локальном контактеПосмотреть предложения по расчету стоимости
Заказчик
заплатил
заплатил
500 ₽
Заказчик не использовал рассрочку
Гарантия сервиса
Автор24
Автор24
20 дней
Заказчик воспользовался гарантией для внесения правок на основе комментариев преподавателя
23 июня 2014
Заказ завершен, заказчик получил финальный файл с работой
5
Основы зондовой микроскопии.docx
2017-11-06 02:30
Последний отзыв студента о бирже Автор24
Общая оценка
4.9
Положительно
Сделана работа очень хорошо, но иногда долго выходил на связь. Автор молодец! Оценка из-за темперамента преподавателя только 3.
Хочешь такую же работу?
300 ₽
