Создан заказ №252102
20 июня 2014
Основы зондовой микроскопии
Как заказчик описал требования к работе:
Нужна курсовая работа по материаловедению. Готовая работа уже есть, но препод не принял. Надо добавить практические примеры ОБЯЗАТЕЛЬНО! Еще нужно вывод переделать. Переделать до завтрашнего утра! Заплачу больше за срочность.
Фрагмент выполненной работы:
ВВЕДЕНИЕ
Современная наука предъявляет исключительно высокие требования к исследовательскому оборудованию, причем ключевым фактором, определяющим конкурентоспособность научной группы или центра, является время. Появляются новые многочисленные экспериментальные подходы и, если они эффективны, быстро получают массовое распространение. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) – один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением [1]. (работа была выполнена специалистами Автор 24) В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ. Прогресс в нанотехнологии стимулировался развитием экспериментальных методов исследований, наиболее информативными из которых являются методы СЗМ, изобретением и в особенности распространением которых мир обязан нобелевским лауреатам 1986 года – профессору Генриху Рореру и доктору Герду Биннигу [2]. Развитие СЗМ послужило также основой для развития новых методов исследования и новых направлений в нанотехнологии производства – создания структур с нанометровыми масштабами [3].
В качестве инструмента исследования, используемого в СЗМ, является сканирующий зондовый микроскоп. Сканирующие зондовые микроскопы (от англ. SPM – Scanning Probe Microscope) – класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом. В общем случае позволяет получить трёхмерное изображение поверхности (топографию) с высоким разрешением. Работа сканирующего зондового микроскопа основана на взаимодействии поверхности образца с зондом (кантилевер, игла или оптический зонд). При малом расстоянии между поверхностью и зондом действие сил взаимодействия (отталкивания, притяжения, и др. сил) и проявление различных эффектов (например, туннелирование электронов) можно зафиксировать с помощью современных средств регистрации. Для регистрации используют различные типы сенсоров, чувствительность которых позволяет зафиксировать малые по величине возмущения. Для получения полноценного растрового изображения используют различные устройства развертки по осям X и Y (например, пьезотрубки, плоскопараллельные сканеры) [1].
Первым из семейства сканирующих зондовых микроскопов был сканирующий туннельный микроскоп (СТМ), изобретенный в 1981 году швейцарскими учеными Гердом Биннигом и Генрихом Рорером [4,5]. В своих работах они показали, что это достаточно простой и весьма эффективный способ исследования поверхности с пространственным разрешением вплоть до атомарного. Настоящее признание данная методика получила после визуализации атомарной структуры поверхности ряда материалов и, в частности, реконструированной поверхности кремния. Вслед за туннельным микроскопом в течение короткого времени были созданы атомно-силовой микроскоп (АСМ), магнитно-силовой микроскоп (МСМ), электросиловой микроскоп (ЭСМ), ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) и многие другие приборы, имеющие сходные принципы работы и называемые сканирующими зондовыми микроскопами [6].
В настоящее время зондовая микроскопия – это бурно развивающаяся область техники и прикладных научных исследований. СЗМ-методы позволяют не только визуализировать и диагностировать микро- и нанообъекты различной природы, но и манипулировать одиночными нанообъектами и модифицировать их структуру с высоким пространственным разрешением. Для этих целей используются электронные токи большой плотности, сильные электрические поля и механические давления, которые можно легко реализовать в локальном контактеПосмотреть предложения по расчету стоимости
Заказчик
заплатил
заплатил
500 ₽
Заказчик не использовал рассрочку
Гарантия сервиса
Автор24
Автор24
20 дней
Заказчик воспользовался гарантией для внесения правок на основе комментариев преподавателя
23 июня 2014
Заказ завершен, заказчик получил финальный файл с работой
5
Основы зондовой микроскопии.docx
2017-11-06 02:30
Последний отзыв студента о бирже Автор24
Общая оценка
4.9
Положительно
Сделана работа очень хорошо, но иногда долго выходил на связь. Автор молодец! Оценка из-за темперамента преподавателя только 3.
Хочешь такую же работу?
300 ₽
