Создан заказ №560570
18 апреля 2015
Цель курсовой работы – изучение атомно-силовой микроскопии тонких пленок.
Как заказчик описал требования к работе:
Срочно выполнить курсовую работу по химии с оформлением по госту и списком литературы. Срок 8 дней, подробное описание темы приложено к заданию
Фрагмент выполненной работы:
ВВЕДЕНИЕ
Задача любой микроскопии – дать наблюдателю увеличенное изображение мелких объектов с необходимы числом деталей (разрешением), используя различия тех или иных физических характеристик этих деталей. Для увеличения изображения мелких объектов был создан в 1982 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером атомно-силовой микроскоп.
Суть метода заключается в том, что пучок электронов, взаимодействуя с поверхностью, рассеивается на ней и регистрирует её структуру, он может проходить образец насквозь — ПЭМ, или отражаться ОЭМ [1].
Цель курсовой работы – изучение атомно-силовой микроскопии тонких пленок.
Объект исследования: тонкие пленки.
Задачи работы: принцип работы атомно-силовой микроскопии; преимущества и недостатки метода; проведение литературного обзора по исследованию АСМ тонких пленок, сделать вывод.
С появлением атомно-силового микроскопа (АСМ) в 1986 г. (работа была выполнена специалистами Автор 24) [1] область применения СЗМ значительно расширилась, и АСМ занял прочные лидирующие позиции в исследовании с атомным разрешением. Метод стал настолько привлекательным, что через пять лет с момента открытия микроскопа уже существовали 22 его основные вариации [2], которые были разработаны для решения широкого спектра задач. До сих пор атомно-силовая микроскопия по темпам развития и информативности получаемых данных существенно опережает альтернативные методы электронной микроскопии и рентгеноструктурного анализа веществаПосмотреть предложения по расчету стоимости
Заказчик
заплатил
заплатил
500 ₽
Заказчик не использовал рассрочку
Гарантия сервиса
Автор24
Автор24
20 дней
Заказчик принял работу без использования гарантии
21 апреля 2015
Заказ завершен, заказчик получил финальный файл с работой
5
Цель курсовой работы – изучение атомно-силовой микроскопии тонких пленок..docx
2020-04-13 17:04
Последний отзыв студента о бирже Автор24
Общая оценка
5
Положительно
Спасибо большое! Работа выполнена качественно и в срок. Автор при работе, уточнял все детали.
Хочешь такую же работу?
300 ₽
