Автор сделал все очень грамотно, на вопросы выслал учебный материал, ответил на все комментарии к заказу. Спасибо за сотрудничество!
Подробнее о работе
Гарантия сервиса Автор24
Уникальность не ниже 50%
Содержание
Введение
1 Современные методы контроля толщины в процессе формирования покрытий оптического назначения
1.1 Состояние и перспективы методов контроля оптической толщины покрытий различного функционального назначения
1.2 Фотометрические методы определения оптической толщины тонких покрытий
1.3 Системы контроля оптических характеристик на основе современной компьютерной диагностики
2 Контроль толщины оптических покрытий на основе тугоплавких оксидов формируемых методом электронно-лучевого синтеза
2.1 Фотометрическая система контроля СФКТ-751В
2.2 Встраиваемая система контроля оптических характеристик
Iris-0211
2.3 Синтез однослойных и многослойных покрытий и контроль их оптической толщины
3 Исследование спектральных характеристик многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов и определение их оптических параметров
3.1 Определение фотометрических параметров однослойных и многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов
3.2 Контроль оптических характеристик с помощью спектрального эллипсометра ESM 512
3.3 Программа расчёта интерференционных покрытий
Заключение
Список используемых источников
Приложение А
Не подошла эта работа?
Закажи новую работу, сделанную по твоим требованиям
Содержание
Введение
1 Современные методы контроля толщины в процессе формирования покрытий оптического назначения
1.1 Состояние и перспективы методов контроля оптической толщины покрытий различного функционального назначения
1.2 Фотометрические методы определения оптической толщины тонких покрытий
1.3 Системы контроля оптических характеристик на основе современной компьютерной диагностики
2 Контроль толщины оптических покрытий на основе тугоплавких оксидов формируемых методом электронно-лучевого синтеза
2.1 Фотометрическая система контроля СФКТ-751В
2.2 Встраиваемая система контроля оптических характеристик
Iris-0211
2.3 Синтез однослойных и многослойных покрытий и контроль их оптической толщины
3 Исследование спектральных характеристик многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов и определение их оптических параметров
3.1 Определение фотометрических параметров однослойных и многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов
3.2 Контроль оптических характеристик с помощью спектрального эллипсометра ESM 512
3.3 Программа расчёта интерференционных покрытий
Заключение
Список используемых источников
Приложение А
Купить эту работу vs Заказать новую | ||
---|---|---|
0 раз | Куплено | Выполняется индивидуально |
Не менее 40%
Исполнитель, загружая работу в «Банк готовых работ» подтверждает, что
уровень оригинальности
работы составляет не менее 40%
|
Уникальность | Выполняется индивидуально |
Сразу в личном кабинете | Доступность | Срок 1—6 дней |
1000 ₽ | Цена | от 3000 ₽ |
Не подошла эта работа?
В нашей базе 55687 Дипломных работ — поможем найти подходящую