Автор - супер! Выполнила работу очень быстро. Всем советую!
Подробнее о работе
Гарантия сервиса Автор24
Уникальность не ниже 50%
В микроэлектронике и в нанотехнологиях необходимы самые разнообразные приборы для измерения постоянных и переменных токов и напряжений, параметров пассивных и активных компонентов, обеспечения электропитания устройств на них и т. д. и т. п.
Для микроэлектроники и нанотехнологий характерен как относительно медленный дрейф результатов измерений в ходе тестирования, так и быстрый дрейф, вызванный шумами. Это вынуждает усложнять приборы для тестирования устройств и вводить в них новые методы измерения, например импульсные, с автоматической коррекцией нуля и т. д [1].
Целью данного реферата является рассмотрение величин, размер которых минимальных. При этом реферат состоит из двух глав, в первой из которых анализу подвергаются электрические параметры, а во второй рассматриваются сверхмалые механические величины.
Введение 3
1 Измерение малых электрических величин 4
2 Измерение малых механических величин 6
Заключение 10
Список использованных источников 11
В данной работе были рассмотрены способы измерения сверхмалых электрических величин с помощью современных мультиметров. Для измерения напряжений и токов, а также сопротивлений и ряда других параметров (частоты, температуры, иногда емкости и индуктивности) в настоящее время имеется великое множество цифровых мультиметров (DMM - Digital Multi Meters) - приборов для измерения нескольких физических (чаще всего электрических) величин. Для таких приборов созданы специальные интегральные микросхемы, позволившие создавать дешевые и миниатюрные мультиметры.
Во второй главе были рассмотрены современные способы измерения сверхмалых расстояний и масс. Измерение сверхмалых расстояний является важной задачей особенно в области интенсивно развивающихся нанотехнологий. Поиск оптических интерферометрических методов, альтернативных лазерным интерферометрам, применение которых для измерения нано расстояний имеет определенные трудности, привел в конце прошлого столетия к развитию оптической когерентной томографии. Измерение сверхмалых масс является важной задачей при исследовании нано- и микромасштабных объектов. В частности, такие объекты могут служить чувствительными элементами для измерения различных физических величин: температуры, давления и других. Так по изменению массы нано- и микрообъектов можно судить о химических или биологических процессах протекающих на их поверхности.
1. Дьяконов В. П. Intel. Новейшие информационные технологии. Достижения и люди. - М.: СОЛОН-Пресс, 2004.
2. A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications, 1st Edition (c), Keithley. 2007.
3. Зи С. Физика полупроводниковых приборов: в 2 т. - М.: Мир, 1984.
4. Схемотехника устройств на мощных полевых транзисторах: справочник /В. В. Бачурин, В. Я. Ваксембург, В. П. Дьяконов, А. А. Максимчук, В. Ю. Смердов и А. М. Ремнев; под ред. В. П. Дьяконова. - М.: Радио и связь, 1994.
5. Дьяконов В. П., Максимчук А. А., Смердов В. Ю., Ремнев А. М. Энциклопедия устройств на полевых транзисторах / под ред. В. П. Дьяконова. - М.:СОЛОН-Р, 2002.
Не подошла эта работа?
Закажи новую работу, сделанную по твоим требованиям
В микроэлектронике и в нанотехнологиях необходимы самые разнообразные приборы для измерения постоянных и переменных токов и напряжений, параметров пассивных и активных компонентов, обеспечения электропитания устройств на них и т. д. и т. п.
Для микроэлектроники и нанотехнологий характерен как относительно медленный дрейф результатов измерений в ходе тестирования, так и быстрый дрейф, вызванный шумами. Это вынуждает усложнять приборы для тестирования устройств и вводить в них новые методы измерения, например импульсные, с автоматической коррекцией нуля и т. д [1].
Целью данного реферата является рассмотрение величин, размер которых минимальных. При этом реферат состоит из двух глав, в первой из которых анализу подвергаются электрические параметры, а во второй рассматриваются сверхмалые механические величины.
Введение 3
1 Измерение малых электрических величин 4
2 Измерение малых механических величин 6
Заключение 10
Список использованных источников 11
В данной работе были рассмотрены способы измерения сверхмалых электрических величин с помощью современных мультиметров. Для измерения напряжений и токов, а также сопротивлений и ряда других параметров (частоты, температуры, иногда емкости и индуктивности) в настоящее время имеется великое множество цифровых мультиметров (DMM - Digital Multi Meters) - приборов для измерения нескольких физических (чаще всего электрических) величин. Для таких приборов созданы специальные интегральные микросхемы, позволившие создавать дешевые и миниатюрные мультиметры.
Во второй главе были рассмотрены современные способы измерения сверхмалых расстояний и масс. Измерение сверхмалых расстояний является важной задачей особенно в области интенсивно развивающихся нанотехнологий. Поиск оптических интерферометрических методов, альтернативных лазерным интерферометрам, применение которых для измерения нано расстояний имеет определенные трудности, привел в конце прошлого столетия к развитию оптической когерентной томографии. Измерение сверхмалых масс является важной задачей при исследовании нано- и микромасштабных объектов. В частности, такие объекты могут служить чувствительными элементами для измерения различных физических величин: температуры, давления и других. Так по изменению массы нано- и микрообъектов можно судить о химических или биологических процессах протекающих на их поверхности.
1. Дьяконов В. П. Intel. Новейшие информационные технологии. Достижения и люди. - М.: СОЛОН-Пресс, 2004.
2. A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications, 1st Edition (c), Keithley. 2007.
3. Зи С. Физика полупроводниковых приборов: в 2 т. - М.: Мир, 1984.
4. Схемотехника устройств на мощных полевых транзисторах: справочник /В. В. Бачурин, В. Я. Ваксембург, В. П. Дьяконов, А. А. Максимчук, В. Ю. Смердов и А. М. Ремнев; под ред. В. П. Дьяконова. - М.: Радио и связь, 1994.
5. Дьяконов В. П., Максимчук А. А., Смердов В. Ю., Ремнев А. М. Энциклопедия устройств на полевых транзисторах / под ред. В. П. Дьяконова. - М.:СОЛОН-Р, 2002.
Купить эту работу vs Заказать новую | ||
---|---|---|
0 раз | Куплено | Выполняется индивидуально |
Не менее 40%
Исполнитель, загружая работу в «Банк готовых работ» подтверждает, что
уровень оригинальности
работы составляет не менее 40%
|
Уникальность | Выполняется индивидуально |
Сразу в личном кабинете | Доступность | Срок 1—4 дня |
224 ₽ | Цена | от 200 ₽ |
Не подошла эта работа?
В нашей базе 85108 Рефератов — поможем найти подходящую